增强型 MCDC 分析的基本工作流程
为增强修正条件/决策覆盖率(MCDC)覆盖率目标生成测试用例:
在 Design Verifier 选项卡的 模式 部分中,选择 测试生成 。
点击 Test Generation Settings 。
在配置参数对话框的 Design Verifier > 测试生成窗格中,将 模型覆盖率目标 设置为 增强的 MCDC 。点击确定。
点击 生成测试 。
注意
当您 为 Embedded Coder 生成的代码生成测试用例 时,不支持增强型 MCDC 分析。该软件考虑了 MCDC覆盖率目标以进行测试生成分析。
Simulink® Design Verifier™分析了增强 MCDC覆盖率目标的模型。
分析完成后:
该软件通过分析结果突出显示模型。
结果检查器窗口显示模型覆盖率目标的摘要,包括可检测性状态。
结果检查器窗口显示模型覆盖率目标的以下可检测性状态:
可探测
无法检测到
未定
该表列出了目标状态和可检测性状态的可能组合。
客观现状 可探测性状态 测试用例描述 使满意
可探测
测试用例满足模型覆盖率目标,并且可以在检测站点检测到。
满意 - 需要仿真
可探测
测试用例满足模型覆盖率目标,并且可以在检测站点检测到。
为了确认满意状态,您必须运行额外的测试用例仿真。有关更多信息,请参阅 目标满足 - 需求仿真 。
使满意
未检测到
该测试用例满足模型覆盖率目标。然而,测试目标在任何检测地点都无法被检测到。
使满意
未定
该测试用例满足模型覆盖率目标。该软件无法显示模型覆盖率目标对下游模块的影响。
无法满足
无法检测到
测试目标无法满足且在任何检测地点都无法检测到。
未定
未定
测试目标尚未确定,软件无法显示其对下游模块的影响。
Simulink Design Verifier 数据文件存储模型覆盖率目标的可检测性状态和检测位置。有关更多信息,请参阅管理 Simulink Design Verifier 数据文件。
使用测试点记录信号配置检测站点
如果您将任何信号标记为测试点记录信号,增强型 MCDC 分析将尽可能优先将此类信号作为测试模块的检测点。例如,考虑下面显示的模型:
如果将 Min
模块的输出作为测试点记录信号,则 switch模块的检测站点是 min 模块的输出端口。否则,它将是饱和模块的输出端口。
portHandle_MinBlk = get_param('model/Min', 'PortHandles’); set_param(portHandle_MinBlk.Outport, 'TestPoint', 'on’); set_param(portHandle_MinBlk.Outport, 'DataLogging', 'on’);
有关测试点的更多信息,请参阅将信号配置为测试点。有关信号记录,请参阅Configure Signals for Logging。
配置高级选项以增强 MCDC 分析
要分析具有更严格的非掩蔽条件的模型,请启用 使用严格的传播条件 选项。该选项在 高级参数 的 Design Verifier > 测试生成窗格中的“配置参数”对话框中可用。
该软件评估更严格的非掩蔽条件,以分析下游模块对测试模块的影响。例如:
如果您的模型由 Gain 或 Product 等模块组成,并且 对整数溢出进行饱和处理 选项设置为 打开 。
使用模型切片器检查增强型 MCDC 物镜
Model Slicer 支持以下测试用例生成的目标状态:
使满意
满意 - 需要仿真
满足现有测试用例
测试用例尚未确定
由于运行时错误而未定
您可以使用 Model Slicer 分析增强的 MCDC 目标及其对模型的影响。在结果窗口中,使用满足和可检测目标右侧的检查链接。
或者,您可以点击Design Verifier选项卡中的Inspect Using Slicer按钮。
启动 Model Slicer 后,该工具会根据 Simulink Design Verifier 生成的与目标相关的测试用例值设置输入,并步进到 sldvData
中记录的观察时间。然后,模型切片器添加正在观察的模型对象作为起点,并通过突出显示切片来显示其对检测点的影响。
当您在配置参数窗口中将模型覆盖率目标设置为增强型 MCDC 时,您可以检查目标的同时分析其可检测性。在这种情况下,切片器配置窗口允许您使用切片器配置列表切换到不同的模式。