photo

Jian Wang


Last seen: 1 month 前 |  自 2025 起处于活动状态

Followers: 0   Following: 0

统计学

File Exchange

2 文件

排名
N/A
of 302,357

声誉
N/A

贡献数
0 个提问
0 个回答

回答接受率
0.00%

收到投票数
0

排名
17,773 of 21,735

声誉
4

平均
0.00

贡献数
2 文件

下载次数
8

ALL TIME 下载次数
37

排名

of 181,489

贡献数
0 个问题
0 个答案

评分
0

徽章数量
0

贡献数
0 帖子

贡献数
0 公开的 个频道

平均

贡献数
0 个亮点

平均赞数

  • First Submission
  • Explorer
  • First Answer
  • Revival Level 1

查看徽章

Feeds

排序方式:

已提交


Ellipsometry for Measurement of Transparent Ultra-Thin Films
Five-step spectroscopic ellipsometry fit of thickness and Cauchy dispersion for transparent ultra-thin SiO2 films on silicon

3 months 前 | 12 次下载 |

0.0 / 5

已提交


Fourier ellipsometry simulation
This code demonstrates the working principle of a PCCA-configured Fourier ellipsometry, showing its sensitivity regarding film t...

1 year 前 | 25 次下载 |

0.0 / 5