Mixed-Signal Blockset

 

Mixed-Signal Blockset

设计、分析和仿真模拟信号系统和混合信号系统

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Mixed-Signal Blockset™ 为设计和验证混合信号集成电路 (IC) 提供组件模型和损伤模型、分析工具以及测试平台。

您可以对 PLL、数据转换器和其他系统进行不同抽象级别的建模。您可以使用这些模型仿真混合信号组件，以及复杂的 DSP 算法和控制逻辑。您可以对这些模型进行自定义，以包含噪声、非线性、抖动和量化效应等损伤。您可以使用 Simulink® 中的可变步长求解器进行系统级快速仿真，从而调试实现过程并识别设计缺陷，而无需对 IC 进行晶体管级仿真。

利用混合信号分析器，您可以分析、识别混合信号数据中的趋势，并对混合信号数据进行可视化。借助 Cadence® Virtuoso ADE MATLAB Integration 选项，您可以将电路级仿真结果的数据库导入 MATLAB® 中。您也可以利用从 IC 设计中提取的寄生元件，导入 SPICE 网表并创建或修改线性时不变电路。此模块集提供了多个分析函数，可对仿真结果进行后处理，以验证规格、拟合特征并报告测量结果。

Mixed-Signal Blockset 概述.
视频长度为 2:16.
Mixed-Signal Blockset 概述
使用 Cadence Virtuoso ADE 仿真结果在混合信号分析器中创建的趋势图。

混合信号数据分析

使用混合信号分析器，以交互方式对混合信号数据进行可视化和分析，并识别混合信号数据中的趋势。借助 Cadence Virtuoso ADE MATLAB Integration 选项，您可以将数据库仿真结果导入 MATLAB 中。

用 MATLAB 分析混合信号电路 (26:18)

文档 | 示例

数字锁相环原理图。

锁相环设计

在系统级设计和仿真锁相环 (PLL)。典型的架构包括采用单模或双模预分频器的整数分频 PLL，以及采用累加器或三角积分调制器的小数分频 PLL。对设计的开环响应和闭环响应进行验证和可视化。

使用规格书进行 PLL 设计和验证（包含相位噪声） (7:58)

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SAR ADC 及其模拟输入信号和数字输出信号的可视化。

ADC 和 DAC 设计

在系统级设计和仿真模数数据转换器 (ADC) 和数模数据转换器 (DAC)。典型的架构包括闪速 (Flash) 型 ADC 和逐次逼近 (SAR) 型 ADC，以及二进制加权 DAC 和分段 DAC。

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相位噪声和抖动

为 ADC 中的孔径抖动建模，并在频域中为 VCO 和 PLL 指定任意相位噪声曲线。使用 Eye Diagram 模块对效应进行可视化。

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使用 ADC 测试平台测试 SAR ADC。

测量和测试平台

测量 PLL 的锁定时间、相位噪声曲线和工作频率。表征 VCO、PFD 和电荷泵等构建块的性能。测量 ADC 的交流和直流特征以及孔径抖动。

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用于 PLL 构造的八个构建块。

行为模型

在混合信号系统设计中使用构建块，包括电荷泵、环路滤波器、鉴频鉴相器 (PFD)、压控振荡器 (VCO)、时钟分频器和采样时钟源等。您可以使用 Simscape Electrical™ 在较低的抽象级别进一步优化模拟模型。

文档 | 示例

产品资源：

文档 模块 视频与网络研讨会 需求 发行说明 示例 模型
GN Hearing 用户案例

“过去，我们在使用芯片对设计进行测试之前无法知道该设计处理抖动的效果。现在采用了在 Simulink 中用离散和连续时间模型运行系统级仿真后，我们可以直接流片而不用担心设计能不能达到效果。”

Henrik Holm Johansen，GN Hearing
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